移动端官网
微信公众号

热、振及热振耦合作用下IGBT模块失效分析

发布于2024-5-5
来源电子元件与材料, 2024, 43(5): 513-520. DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.1537
作者王浩洁, 马永翔, 朱娟娟, 等.
浏览量177
Copyright © 2025 Electronic Components and Materials All Rights Reserved.
电话:028-84391569 邮箱:journalecm@163.com 地址:成都市一环路东一段159号电子信息产业大厦1101室 邮编:610051
版权所有:电子元件与材料杂志社技术支持:网站建设仕航软件 备案号:蜀ICP备09019272号-1/68_2.64
移动端官网
微信公众号