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研究与试制
研究与试制
一种具有多晶硅二极管栅极结构的槽栅IGBT设计
发布于
2022-8-5
来源
电子元件与材料, 2022, 41(8): 834-841. DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2022.0384
作者
王波, 胡汶金, 赵一尚, 等.
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基于先进电子铝箔微观腐蚀形貌对比分析
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