移动端官网
微信公众号

周期数n对(BSZT/BTO)n薄膜微观结构和电学性能的影响

发布于2022-7-5
来源电子元件与材料, 2022, 41(7): 673-679. DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2022.1749
作者季航, 胡睿, 余萍.
浏览量275
Copyright © 2025 Electronic Components and Materials All Rights Reserved.
电话:028-84391569 邮箱:journalecm@163.com 地址:成都市一环路东一段159号电子信息产业大厦1101室 邮编:610051
版权所有:电子元件与材料杂志社技术支持:网站建设仕航软件 备案号:蜀ICP备09019272号-1/68_2.66
移动端官网
微信公众号