移动端官网
微信公众号

低浓度CeO2/SiO2复合磨料对硅片CMP性能的影响

发布于2024-10-5
来源电子元件与材料, 2024, 43(10): 1227-1234. DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.0066
作者刘文博, 王辰伟, 罗翀, 等.
浏览量344
Copyright © 2025 Electronic Components and Materials All Rights Reserved.
电话:028-84391569 邮箱:journalecm@163.com 地址:成都市一环路东一段159号电子信息产业大厦1101室 邮编:610051
版权所有:电子元件与材料杂志社技术支持:网站建设仕航软件 备案号:蜀ICP备09019272号-1/68_3.91
移动端官网
微信公众号