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高均匀性1×128 SiC紫外雪崩光电二极管探测阵列

发布于2024-7-5

来源电子元件与材料, 2024, 43(7): 804-808. DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.0052

作者李红旭, 苏琳琳, 杨成东.

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